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本发明涉及一种采用电控变焦透镜作为共焦显微系统轴向扫描方法，构建电控变焦透镜的共焦显微系统，通过控制电控可变焦透镜焦距对样品上（ｘ，ｙ）点进行轴向扫描，得到变焦透镜焦距不同距时探测器的光强值，利用极值搜索法或高斯拟合法计算出样品上该点的轴向...
该专利属于上海理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海理工大学授权不得商用。

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