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本发明实施例公开一种判定异常芯片的方法、装置、电子设备及存储介质,涉及芯片验证领域,能够有效提高异常芯片判定的准确性。所述方法包括:对第一晶圆上第一芯片的第一引脚,依次施加至少两个检测输入值,得到对应的检测输出值;基于所述检测输出值及预设异...该专利属于海光云芯集成电路设计(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过海光云芯集成电路设计(上海)有限公司授权不得商用。
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本发明实施例公开一种判定异常芯片的方法、装置、电子设备及存储介质,涉及芯片验证领域,能够有效提高异常芯片判定的准确性。所述方法包括:对第一晶圆上第一芯片的第一引脚,依次施加至少两个检测输入值,得到对应的检测输出值;基于所述检测输出值及预设异...