下载半导体老化冷热测试装置的技术资料

文档序号:40410020

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半导体老化冷热测试装置,涉及测试装置技术领域,包括工作台,工作台上固定有测试座,测试座上开设有若干个与半导体器件相匹配的针脚孔,每个针脚孔内固接有连接端子,连接端子的下端部通过导线连接有半导体测试仪主体,测试座的上方沿水平方向滑动设有安装座...
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