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本发明公开了一种基于HiSIM‑HV模型的MOSFET模型参数范围自动化检查方法，涉及半导体器件技术领域。所述自动化检查方法包括：需确定器件类型为N型MOSFET或P型MOSFET；将参数提取得到的参数文件，利用程序进行读取；得到参数名称和...
该专利属于哈尔滨工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过哈尔滨工业大学授权不得商用。

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