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本发明的光谱可调的共焦位移和厚度的测量系统，属于高精度测量的技术领域，至少解决现有技术中的光源的光谱特性均匀性或稳定性较低，降低被测物的测试效率的技术问题。包括镜头组件、分叉光纤、光源组件、光谱仪和控制器，光源组件包括基础光源和调节光源，其...
该专利属于智慧星空（上海）工程技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过智慧星空（上海）工程技术有限公司授权不得商用。

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