下载用于基于半导体应用的无监督或自我监督的深度学习的技术资料

文档序号:40376791

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提供用于确定样品的信息的方法及系统。一种系统包含计算机子系统及由所述计算机子系统执行的一或多个组件,所述一或多个组件包含在无经标记数据的情况下(例如,以无监督或自我监督方式)进行训练且经配置以从包含至少一样品图像或从所述样品图像产生的数据的...
该专利属于科磊股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过科磊股份有限公司授权不得商用。

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