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崩应测试装置以及测试设备制造方法及图纸
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文档序号:40358338
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本申请涉及一种崩应测试装置以及测试设备。崩应测试装置,包括:测试板,用于放置芯片;测试电路,包括模数转换模块,所述模数转换模块输入端用于连接所述芯片的芯片管脚,输出端用于连接上位机。本申请实施例可以有效提高崩应测试效率。...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
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