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本发明公开了一种基于泛化模型的电路优化方法、装置及存储介质，所述方法包括获取影响电路性能的设计参数集；针对设计参数集中的每一组设计参数进行N次拉丁超立方LHS仿真，获得该设计参数下N个样本，并添加到数据集T中，从数据集T中随机采样W个任务，...
该专利属于中科南京智能技术研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中科南京智能技术研究院授权不得商用。

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