一种基于泛化模型的电路优化方法、装置及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于泛化模型的电路优化方法、装置及存储介质，所述方法包括获取影响电路性能的设计参数集；针对设计参数集中的每一组设计参数进行N次拉丁超立方LHS仿真，获得该设计参数下N个样本，并添加到数据集T中，从数据集T中随机采样W个任务，以任务为训练集，不断训练更新每个任务的模型系数；计算每个任务的损失函数，利用所有任务的损失函数，统计全局损失函数，从而获得泛化模型；通过泛化模型进行仿真，评估各设计参数的良率，从而确定最优设计参数，通过最优设计参数对电路进行设计，实现电路优化，本发明专利技术通过泛化模型，利用泛化模型在设计流程中只需要少量样本微调的特点，有效提高电路优化速度，缩短设计周期。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种基于泛化模型的电路优化方法、装置及存储介质，属于电路优化。

技术介绍

1、随着工艺的进步，影响电路性能的工艺参数不断增多，存储、模拟、数模混合等电路设计难度加大，难以通过经验确定最优设计参数，并且电路的仿真时间随着工艺参数的增加也随之增加，设计者的优化迭代效率降低，芯片设计周期急剧增加。而现有的通过减少单次仿真时间和优化迭代次数的方法普适性有限，只对固定的设计参数下的特定场景有效。难以有效提高实际电路的优化迭代速度。

2、现有的提高电路优化效率的方法大体有三种：一是减少单次优化的时间，可通过建立替代模型替代昂贵的电路仿真实现。二是通过减少总的优化次数，可通过种群算法或者贝叶斯优化用尽可能少的迭代次数筛选最优的候选设计参数。三是将两者结合起来，在使用种群算法的优化过程中通过替代模型来评估每一个候选参数。

3、第三种方法似乎可以最大程度上提高优化效率，然而在实际应用中存在这样一个问题：即工艺参数与电路性能之间的映射关系会随着设计参数的变化而发生改变，若每次设计参数的变化都需要重新训练替代模型，那么随着设计参数数量的增加本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于泛化模型的电路优化方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的基于泛化模型的电路优化方法，其特征在于，所述获取影响电路性能的设计参数集，包括：

3.根据权利要求1所述的基于泛化模型的电路优化方法，其特征在于，所述计算每个任务的损失函数，利用所有任务的损失函数，统计全局损失函数，从而获得能适应多任务的泛化模型，包括：

4.根据权利要求3所述的基于泛化模型的电路优化方法，其特征在于，所述在当前设计参数下运行K1次LHS仿真获得微调数据集，从微调数据集中抽取K2个任务对泛化模型微调，包括：

5.一种基于泛化模型的电路优化装置，其...

【技术特征摘要】

1.一种基于泛化模型的电路优化方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的基于泛化模型的电路优化方法，其特征在于，所述获取影响电路性能的设计参数集，包括：

3.根据权利要求1所述的基于泛化模型的电路优化方法，其特征在于，所述计算每个任务的损失函数，利用所有任务的损失函数，统计全局损失函数，从而获得能适应多任务的泛化模型，包括：

4.根据权利要求3所述的基于泛化模型的电路优化方法，其特征在于，所述在当前设计参数下运行k1次lhs仿真获得微调数据集，从微调数据集中抽取k2个任务对泛化模型微调，包括：

5.一种基于泛化模型的电路优化装置，其特征在于，包括：

6.根据权利要求5所述的基于泛化模型的电路优化装...

【专利技术属性】
技术研发人员：庞亮，游恒，尚德龙，周玉梅，
申请(专利权)人：中科南京智能技术研究院，
类型：发明
国别省市：