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本发明涉及一种用于带电粒子显微镜(诸如透射电子显微镜)中的样品架尖端；包括该样品架尖端的样品架以及使用该样品架尖端和样品架的方法。...
该专利属于FEI公司所有，仅供学习研究参考，未经过FEI公司授权不得商用。

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