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半导体结构及其制作方法技术
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文档序号:40317620
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本发明提供一种半导体结构的制作方法。该制作方法包括:提供包括CMOS区和LDMOS区的基底;在基底中形成注入阱,注入阱与基底的上表面具有大于零的间距,注入阱包括位于CMOS区的基底中的第一注入阱以及位于LDMOS区的基底中的第二注入阱;在C...
该专利属于无锡华润上华科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过无锡华润上华科技有限公司授权不得商用。
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