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本发明涉及集成电路技术领域，揭露了一种基于深度学习实现厚膜电路板的耐高温测试方法及系统，包括：分析架构材料对应的材料信息，确定架构材料对应的材料特征；提取电路板架构中架构器件对应的器件参数，计算架构材料对应的导热系数，设置架构器件对应的升温...
该专利属于威科电子模块（深圳）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过威科电子模块（深圳）有限公司授权不得商用。

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