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本申请涉及电容库创建方法，包括：确定与模型结构对应的模型采样参数，模型结构包括位于第一金属层上的第一导体、位于第二金属层上的第二导体、以及位于第一金属层与第二金属层之间的至少一个介质层，模型采样参数用于指示模型结构的结构信息；基于模型采样参...
该专利属于杭州行芯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州行芯科技有限公司授权不得商用。

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