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本发明公开一种共地型芯片测试插座。共地型芯片测试插座包含一金属外框、一金属固持座及多个接地弹簧探针。所述金属固持座安装于所述金属外框，以共同包围形成有一容置槽。多个所述接地弹簧探针紧配合地固持于所述金属固持座，以使多个所述接地弹簧探针、所述...
该专利属于台湾中华精测科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过台湾中华精测科技股份有限公司授权不得商用。

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