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本申请涉及一种存储阵列失效检测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括对存储阵列中的目标存储单元的第一电容极板施加第一电压，且对其第二电容极板施加第二电压，第二电压大于第一电压；对目标存储单元写入高电平的第一数据；对目标存...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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