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一种大容量叠层DDR3芯片的筛选控制方法技术
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文档序号:40035635
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本发明提出一种大容量叠层DDR3芯片的筛选控制方法,根据环境条件如温度、气压、振动,对叠层组装后的产品进行测试验证,提前筛选出存在缺陷的产品;同时在多种翻转码型下进行芯片的开关同步噪声特性进行评估,并根据出错的采样位置设定新的采样位置。...
该专利属于刘奕鑫所有,仅供学习研究参考,未经过刘奕鑫授权不得商用。
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