下载测试电路、测试系统、测试方法和半导体器件的技术资料

文档序号:40014912

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

本申请实施例提供一种测试电路、测试系统、测试方法和半导体器件,测试电路包括环形振荡电路和镜像电路;环形振荡电路包括依次级联的多个第一反向单元,每个第一反向单元包括第一输入端和第一输出端,至少一个第一反向单元的第一输入端和第一输出端与镜像电路...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。