专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
长鑫存储技术有限公司
>
半导体结构及其形成方法技术
>技术资料下载
下载半导体结构及其形成方法的技术资料
文档序号:39968501
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本公开涉及一种半导体结构及其形成方法。所述半导体结构包括位于衬底上的多个存储单元,每个所述存储单元包括:晶体管;电容器,电连接所述晶体管,所述电容器包括主体部、以及位于所述主体部的侧面且与所述主体部电连接的延伸部。本公开增大了电容器的电容量...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。