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本申请提供了一种芯片测试方法、测试装置及存储介质；方法包括：确定待检测芯片对应的至少一个标记参数；若至少一个标记参数为第一值，则对待检测芯片进行第一测试，并修改标记参数为第二值。本申请能够避免测试问题，提高芯片的质量。...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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