下载一种半导体试验箱的技术资料

文档序号:39816229

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本申请涉及一种半导体试验箱,其包括箱体,箱体内具有测试腔和转接腔,所述箱体内还固定有用于把所述测试腔和所述转接腔隔开的第一隔板,所述测试腔内固定有用于对老化板导向的导轨,所述第一隔板开设有转接槽,所述转接腔内设有转接板,所述转接板一端具有第...
该专利属于杭州高裕电子科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过杭州高裕电子科技股份有限公司授权不得商用。

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