下载一种芯片检验治具的技术资料

文档序号:39603959

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本实用新型公开了一种芯片检验治具,包括底座;所述底座上设置有检测平台;探针组件,包括多根半导体探针;直线往复运动组件,包括手柄、曲柄、连杆以及滑动座,所述曲柄一端与所述底座铰接,另一端与所述连杆的一端铰接,所述连杆远离所述曲柄的一端与所述滑...
该专利属于浙江天极集成电路技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过浙江天极集成电路技术有限公司授权不得商用。

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