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本公开提供一种测试装置以及半导体元件的测试方法。该测试装置包括一插槽以及一盖体，该插槽具有一腔室，用以容纳一待测元件，该盖体设置在该插槽上。该插槽具有一导热材料。该盖体具有一盘体、一电路板以及一开口，该电路板贴附到该盘体，该开口穿过该盘体与...
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