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一种两步在轨校正星敏感器内参数的方法技术
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文档序号:39327337
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本发明公开了一种两步在轨校正星敏感器内参数的方法,涉及星敏感器在轨内参数校正技术领域,将星敏感器图像中恒星视为特征点并提取位置信息,然后通过LK光流法快速完成特征跟踪匹配,一旦匹配成功的特征点小于10则进入局部天区星图识别,补充特征点数量。...
该专利属于中国科学院光电技术研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院光电技术研究所授权不得商用。
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