一种两步在轨校正星敏感器内参数的方法技术

技术编号:39327337 阅读:12 留言:0更新日期:2023-11-12 16:04
本发明专利技术公开了一种两步在轨校正星敏感器内参数的方法,涉及星敏感器在轨内参数校正技术领域,将星敏感器图像中恒星视为特征点并提取位置信息,然后通过LK光流法快速完成特征跟踪匹配,一旦匹配成功的特征点小于10则进入局部天区星图识别,补充特征点数量。在内参数校正部分,前20帧图像采用非线性优化进行内参数(包括焦距,主点,径向畸变系数和切向畸变系数等7个系数)粗校正,有助于加快参数的收敛;其后的图像利用粗校正结果和扩展卡尔曼滤波(EKF)对内参数进行精确校正。本发明专利技术通过优化和滤波对内参数进行两步校正,能有效提高滤波收敛的速度和精度。能有效提高滤波收敛的速度和精度。能有效提高滤波收敛的速度和精度。

【技术实现步骤摘要】
一种两步在轨校正星敏感器内参数的方法


[0001]本专利技术涉及星敏感器在轨内参数校正
,尤其涉及一种两步在轨校正星敏感器内参数的方法。

技术介绍

[0002]星敏感器是目前航天器上测量精度最高的姿态传感器,它以探测恒星为目标,通过星图识别为航天器提供天球坐标系下的姿态信息。由于其本质仍是视觉探测器,因此使用前需要对其光学参数进行标定。需要标定的主要参数包括焦距,主点,畸变(径向畸变和切向畸变)。
[0003]星敏感器的标定方法分为地面标定和在轨标定。地面标定通常是常温常压下进行的,这与在轨应用环境有很大不同。同时发射时的振动,在轨长时间服役导致器件的老化都会导致光学参数发生变化从而影响星敏感器的探测精度。因此针对星敏感器的光学参数进行实时在轨标定具有较高的工程意义。
[0004]中国专利申请CN202211290287.7提出的高精度星敏感器光学系统内参数微变化量在轨标定方法仅对焦距和主点进行标定并未考虑畸变参数,此外该方法通过星图识别而不是LK光流进行星点的匹配。中国专利申请CN201310136159.1提出利用光矢量方向夹角固定的原理校正星敏感器透镜畸变,并未考虑焦距和主点。综上所述,上述方法均未涉及利用两步在轨校正星敏感器内参数。

技术实现思路

[0005]为解决上述技术问题,本专利技术提供一种两步在轨校正星敏感器内参数的方法,首先通过LK光流法快速完成恒星特征跟踪匹配;在参数校正部分,首先通过引入非线性优化方法完成内参数的粗校正,有助于加快参数的收敛。然后利用初始校正的内参数和扩展卡尔曼滤波对内参数进行精确估计。本专利技术有效提高了星敏感器内参数在轨校正的精度和收敛速度。
[0006]为达到上述目的,本专利技术采用的技术方案如下:一种两步在轨校正星敏感器内参数的方法,包括如下步骤:步骤(1)星敏感器捕获新一帧图像后,将星点视为特征点进行特征提取,获得只包含位置坐标的特征点集合;步骤(2)利用LK光流法对前一帧星敏感器捕获的图像提取到的特征点集合在当前帧中进行特征跟踪,得到位置坐标集合;当特征点集合中某一特征点与位置坐标集合中的特征点的欧式距离小于3个像素,则视为匹配成功,此时将特征点集合中对应的特征点存储的恒星信息传递给特征点集合中的特征点;所述恒星信息包括星号、赤经赤纬;步骤(3)当步骤(2)中匹配成功的特征点的数量大于或等于10,则筛选出离图像中
心点距离最远的10个特征点用于内参数的校正;当步骤(2)中匹配成功的特征点的数量小于10,则计算星敏感器当前姿态并进行局部天区星图识别,重新对特征点集合进行特征匹配;步骤(4)对前20帧图像采用非线性优化进行内参数的粗校正,获得粗校正结果,所述内参数包括焦距,主点,径向畸变系数和切向畸变系数;步骤(5)将步骤(4)得到的粗校正结果作为扩展卡尔曼滤波初值,对内参数进行精确估计,直到所有内参数均收敛。
[0007]有益效果:首先,本专利技术提出了基于LK光流的快速星点匹配,其不同于传统星图识别,大大节省了星点匹配的时间;此外在参数校正部分,引入了非线性优化和滤波两步法进行内参数的校正,即使当在轨内参数初始误差较大时,也能保证高精度的估计,同时基于优化的粗校正提供了良好的参数初值,提升了滤波校正的收敛速度。
附图说明
[0008]图1为本专利技术的一种两步在轨校正星敏感器内参数的方法的流程图。
[0009]图2为仿真条件下7项内参数估计结果图;其中,(a)为焦距,(b)为主点u0,(c)为主点v0,(d)为径向畸变系数k1,(e)为径向畸变系数k
2,
(f)为切向畸变系数p1,(g)为切向畸变系数p2。
[0010]图3为畸变校正前后的效果图;其中,(a)为校正前,(b)为校正后。
具体实施方式
[0011]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。此外,下面所描述的本专利技术各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
[0012]首先设置星敏感器的仿真参数,如表1所示:表1,将史密松天文台星表中星等亮度超过6Mv的恒星映射到图像中,施加0.05pixel的星点位置误差。并设置航天器的三轴角速度为,连续生成1200幅星图,如图1所示,两步在轨校正星敏感器内参数的方法的具体步骤如下:步骤(1)星敏感器捕获新一帧图像后,将星点视为特征点进行特征提取,获得只包含位置坐标的特征点集合。
[0013]步骤(2)利用 Lucas

Kanade(LK)光流法对前一帧星图提取到的特征点在当
前帧中进行特征跟踪,得到位置坐标集合。当中某一特征点与中的特征点的欧式距离小于3个像素,则视为匹配成功,此时将中对应特征点存储的恒星信息(星号、赤经赤纬)传递给中的特征点。
[0014]步骤(3)当步骤(2)匹配成功的特征点的数量大于或等于10,则筛选出离图像中心点距离最远的10个特征点用于内参数校正;当匹配成功的特征数小于10,采用SVD算法计算星敏感器当前姿态和光轴指向信息确定局部天区,对重新匹配。
[0015]步骤(4)对前20帧图像通过非线性优化进行内参数的粗校正。遍历步骤(3)中筛选出的10个特征点,计算任意两点星角距,根据星角距不变原理获得残差项并构建最小二乘问题:,其中,X表示所有待估计内参数的集合;上标T表示矩阵的转置,表示任意两个不同的星点i和j之间的星焦距估计值,表示星点i和j之间的星焦距观测值,表示星角距残差,即估计值与观测值的差;表示X最优化的结果。表示求解使括号内表达式值最小,表示求和任意两个不同星点的星角距,表示二范数的平方,大小或等于矢量所有元素求欧式距离的平方。内参数包括焦距,主点,径向畸变系数和切向畸变系数。
[0016]最小二乘的求解采用高斯牛顿法:,其中,表示施加在X上的微小增量,表示参数为X的星角距残差,表示参数为的星角距残差。是每一项残差相对于X的雅各比矩阵。经过20幅星图最终得到粗校正结果。
[0017]步骤(5)将步骤(4)得到的内参数的粗校正结果作为扩展卡尔曼滤波(EKF)的初值,即当k=1时,已知内参数的后验概率估计:。因此从k=1开始逐步对内参数和其协方差矩阵进行估计,步骤如下:
,其中,表示第k步内参数的先验估计;是转移矩阵,此处为单位阵I;表示k

1步内参数的后验估计,当k=1时,等于粗校正结果;表示第k步协方差矩阵的先验估计;表示第k

1步协方差矩阵的后验估计,当k=1时,等于单位阵I;是观测矩阵,此处为残差项关于X的雅各比矩阵;表示卡尔曼增益;表示k步内参数的后验估计;表示观测值,这里表征观测星角距;表示第k步协方差矩阵的后验估计,I是单位矩阵。是转移噪声,这里取大小为1e

8的单位阵;是观测噪声,这里取大小为1e

6的单位阵;焦距f初始值为14.5mm本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种两步在轨校正星敏感器内参数的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤(1)星敏感器捕获新一帧图像后,将星点视为特征点进行特征提取,获得只包含位置坐标的特征点集合;步骤(2)利用LK光流法对前一帧星敏感器捕获的图像提取到的特征点集合在当前帧中进行特征跟踪,得到位置坐标集合;当特征点集合中某一特征点与位置坐标集合中的特征点的欧式距离小于3个像素,则视为匹配成功,此时将特征点集合中对应的特征点存储的恒星信息传递给特征点集合中的特征点;所述恒星信息包括星号、赤经赤纬;步骤(3)当步骤(2)中匹配成功的特征点的数量大于或等于10,则筛选出离图像中心点距离最远的10个特征点用于内参数的校正;当步骤(2)中匹配成功的特征点的数量小于10,则计算星敏感器当前姿态并进行局部天区星图识别,重新对特征点集合进行特征匹配;步骤(4)对前20帧图像采用非线性优化进行内参数的粗校正,获得粗校正结果,所述内参数包括焦距,主点,径向畸变系数和切向畸...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵汝进易晋辉马跃博龙鸿峰朱梓健梁震
申请(专利权)人:中国科学院光电技术研究所
类型:发明
国别省市:

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