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本发明涉及超大规模数字集成电路测试领域，具体涉及一种灵活配置片内扫描链的互连测试结构。包括：分段边界扫描链模块，将片内所有的扫描链按照互连对象进行划分；TAP控制器模块，用于根据JTAG输入信号，控制内部测试电路的动作；同时接入扫描链重定向...
该专利属于中国电子科技集团公司第五十八研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第五十八研究所授权不得商用。

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