【技术实现步骤摘要】
一种灵活配置片内扫描链的互连测试结构
[0001]本专利技术涉及超大规模数字集成电路测试领域，具体涉及一种灵活配置片内扫描链的互连测试结构。
技术介绍
[0002]伴随着算力需求的激增以及摩尔定律面临困境，芯粒技术被提出，并在工业界已被一定程度地应用，关于芯粒技术的讨论也愈发火热。芯粒技术将芯片模块化、小型化，同时通过堆叠小芯粒生产芯片，最终达到提升良率、提高算力、降低成本、缩短生产周期的效果。芯粒技术的一大特点即为内部复杂的互连关系，这给测试提出了巨大的挑战。
[0003]目前面向芯粒问题的测试解决方案，大多基于IEEE的3个标准进行边界扫描测试，即IEEE 1149、IEEE 1687以及IEEE 1838。IEEE 1149给出了芯片板级测试的标准方案，使用统一的标准JTAG（Joint Test Action Group，联合测试工作组）接口以及TAP（Test Access Port，测试访问端口）控制器，通过将测试数据移入边界扫描链，依靠不同的指令，分步骤完成旁路测试、预装载测试、输入测试以及输出测试等。...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种灵活配置片内扫描链的互连测试结构，其特征在于，包括：分段边界扫描链模块BSC_group_i，用于将芯粒片内所有的扫描链按照互连对象进行划分；TAP控制器模块，用于根据JTAG输入信号，控制内部测试电路的动作；同时接入扫描链重定向控制模块，以生成扫描链重定向需要的控制使能信号；扫描链重定向控制模块，用于实现扫描链的灵活配置和旁路多余的扫描链；同时接入分段边界扫描链模块BSC_group_i，分段边界扫描链模块BSC_group_i与芯粒内核接入；包括：配置寄存器链、双向互连测试控制模块和测试输出TDO控制逻辑；配置寄存器链分别与双向互连测试控制模块和测试输出TDO控制逻辑相接入。2.如权利要求1所述的一种灵活配置片内扫描链的互连测试结构，其特征在于，将片内所有的扫描链按照互连对象进行划分，具体包括：假设芯粒内有个引脚，其中为该芯粒与chiplet
i
的互连的输入引脚，为该芯粒与chiplet
i
的互连的输出引脚，；n为该芯粒的互连对象数，当引脚无片内互连对象，即其为顶层端口，也视其有一互连对象，即顶层为其互连对象；将上述引脚的边界扫描单元按照互连对象划分为BSC_group_i，规定各BSC_group_i扫描链输入为to_groupi_scan_in，输出为from_groupi_scan_out；对相邻的BSC_group_i控制其连接，每个BSC_group_i（i≠1）的输入均为BSC_group_（i
‑
1）的输入或输出两种情况；即to_groupi_scan_in=group（i
‑
1）_sel？to_group（i
‑
1）_scan_in：from_group（i
‑
1）_scan_out；同理，最终的测试输出来源于BSC_group_n的输入或输出两种情况；即Scan_out = scan_out_sel ? to_groupn_scan_in : from_groupn_scan_out。3.如权利要求1所述的一种灵活配置片内扫描链的互连测试结构，其特征在于，各个BSC_group_i内部的不同方向引脚的顺序取决于互连的两个芯粒在扫描链上的顺序；即：chiplet0的TDO输出连接到chiplet1的TDI，即在扫描链上chiplet0在chiplet1之前，此时chiplet1与chiplet0互连的输出引脚靠近TDI，互连输入引脚远离TDI；对应的chiplet0与chiplet1互连的输入引脚靠近TDO，互连的输出引脚远离TDO。4.如权利要求1所述的一种灵活配置片内扫描链的互连测试结构，其特征在于，所述TAP控制器模块的逻辑与标准电路逻辑相同，但不包括标准电路逻辑中的TDO的输出控制逻辑，同时所述TAP控制器模块还包括增加的STATE[3:0]端口、sample_preload端口、select_jtag_output端口、tdr_mux端口和BYPASS_decoded端口。5.如权利要求2所述的一种灵活配...
【专利技术属性】
技术研发人员：魏敬和，章震，殷誉嘉，于宗光，刘国柱，高营，何健，滕浩然，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第五十八研究所，
类型：发明
国别省市：
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