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本实用新型实施例提供一种半导体测试器件，其包括用于测试的多个器件使用一个或多个重分布层串联，并用于对多个管芯进行半导体器件测试。如此，半导体器件测试可以支持数以千计或更多的每晶片总管芯数(例如，10,000个管芯或更多大)。此外，重分布层可...
该专利属于台湾积体电路制造股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过台湾积体电路制造股份有限公司授权不得商用。

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