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本发明提供不需要精度管理试样的余量管理的自动分析装置。一种自动分析装置，具备：投入部，其被投入容纳检体或精度管理试样的容器；ID读取器，其读取对所述容器赋予的ID；控制部，其对所述ID分配测定项目并且控制各部；以及分析部，其基于所述测定项目...
该专利属于株式会社日立高新技术所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社日立高新技术授权不得商用。

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