自动分析装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供不需要精度管理试样的余量管理的自动分析装置。一种自动分析装置，具备：投入部，其被投入容纳检体或精度管理试样的容器；ID读取器，其读取对所述容器赋予的ID；控制部，其对所述ID分配测定项目并且控制各部；以及分析部，其基于所述测定项目，从所述容器分注所述检体或所述精度管理试样来实施分析，所述自动分析装置的特征在于，所述控制部在容纳所述精度管理试样的第一容器中的液量不充足时，将对所述第一容器的ID分配的测定项目中的未实施的测定项目分配给容纳所述精度管理试样的第二容器的ID，并使所述分析部实施分析。并使所述分析部实施分析。并使所述分析部实施分析。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】自动分析装置


[0001]本专利技术涉及自动分析装置。

技术介绍

[0002]自动分析装置是自动地定性或定量分析血液、尿等检体中包含的特定成分的装置。为了在自动分析装置中维持分析精度，多次测定具有已知浓度的试样即精度管理试样，确认测定值的平均值或标准偏差处于容许范围中。精度管理试样的测定将定期进行，因此精度管理试样的余量管理是重要的。
[0003]在专利文献1中公开了一种自动分析装置，为了自动地进行精度管理试样的余量管理，存储精度管理试样的可测定次数，将所存储的可测定次数与所委托的测定次数进行比较，显示其差。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1：日本专利第3727481号公报

技术实现思路

[0007]专利技术所要解决的课题
[0008]但是，在专利文献1中，由于针对每个自动分析装置进行精度管理试样的余量管理，因此在多个自动分析装置共用精度管理试样时，有时在按每个自动分析装置存储的可测定次数与实际能够测定的次数之间产生误差而无法测定精度管理试样。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种自动分析装置，具备：被投入容纳检体或精度管理试样的容器的投入部、读取对所述容器赋予的ID的ID读取器、对所述ID分配测定项目并且控制各部的控制部、以及基于所述测定项目从所述容器分注所述检体或所述精度管理试样来实施分析的分析部，其特征在于，所述控制部在容纳所述精度管理试样的第一容器中的液量不充足时，将对所述第一容器的ID分配的测定项目中的未实施的测定项目分配给容纳所述精度管理试样的第二容器的ID，并使所述分析部实施分析。2.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，所述第一容器和所述第二容器被保持于同一架子，所述控制部在所述第一容器中的液量不充足时，使所述架子输送到所述ID读取器，将对所述第一容器的ID分配的测定项目中的未实施的测定项目分配给所述第二容器的ID。3.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：辻川政树，田中佳幸，
申请(专利权)人：株式会社日立高新技术，
类型：发明
国别省市：