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校准治具及量测系统技术方案
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文档序号:38860160
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本实用新型提供了一种校准治具及量测系统,所述校准治具配置为确定晶圆在钳块上的目标位置,以便于根据该目标位置将所述晶圆放置在所述钳块上;所述校准治具包括治具本体,所述治具本体上设置有与所述钳块相对应的定位结构,所述定位结构配置为定位所述校准治...
该专利属于上海华力微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海华力微电子有限公司授权不得商用。
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