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本发明公开了一种红外焦平面器件的不稳定像元测试方法，包括：得到面阵裸电路背景电压；得到面阵均压，得到面阵均压时间序列拟合曲线；得到面阵每个像元时间序列拟合曲线；计算得到每个像元电压拟合标准差；计算得到每个像元拟合差标准差；计算得到每个像元电...
该专利属于浙江珏芯微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江珏芯微电子有限公司授权不得商用。

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