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半导体装置及其制造方法制造方法及图纸
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文档序号:38826055
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本发明涉及一种半导体装置及其制造方法。所述半导体装置包括:沟槽,其形成在衬底中;栅电介质层,其覆盖沟槽的侧壁和底表面;第一栅电极,其间隙填充在栅电介质层之上的沟槽的底部;第二栅电极,其在第一栅电极之上包括与第一栅电极相同的金属氮化物,并掺杂...
该专利属于爱思开海力士有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过爱思开海力士有限公司授权不得商用。
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