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本发明涉及一种记录样本中单个粒子的运动轨迹的方法和执行该方法的光学显微镜。从至少近似已知的起始位置开始，用扫描光的具有局部强度最小值的强度分布来扫描粒子。当用扫描光照射时，待跟踪的粒子产生可探测的光信号，根据光信号的强度计算出粒子的更新坐标...
该专利属于阿贝锐纳仪器有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过阿贝锐纳仪器有限公司授权不得商用。

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