专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
长鑫存储技术有限公司
>
半导体器件结构及制备方法技术
>技术资料下载
下载半导体器件结构及制备方法的技术资料
文档序号:38630473
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本申请公开了一种半导体器件结构及制备方法,晶体管位于外围电路区域,晶体管包括源极和漏极;字线沟槽位于衬底内,字线沟槽贯穿衬底的相邻接的第一区域及第二区域;埋入式栅极字线位于字线沟槽中;埋入式栅极字线包括依次层叠的第一导电层和第二导电层,位于...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。