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本发明涉及一种获得考虑版图相关应力后电路性能的方法，属于集成电路设计技术领域，该方法包括：提取出版图各个晶体管的区域；对版图中每个晶体管划分出有效区域，以将大规模电路划分成小单元；依据版图构造每个晶体管有效区域的三维结构，设定初始条件及边界...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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