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本发明提出了一种涂层原位大角度散射测试系统及其测试方法，属于空间光学系统杂散光测试领域。解决了如何开发新型涂层立体表面大角度散射测试，对涂层实施在遮光罩表面后的实际杂散光抑制性能评估的问题。该系统的双柱罐、挡光屏、平行光管和光源集成系统均位...
该专利属于哈尔滨工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过哈尔滨工业大学授权不得商用。

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