温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及一种端到端的知识图谱生成方法，包括：获取半导体制造中产出的非文本形式的至少一项目标数据，各项目标数据包括数值序列或数值矩阵；根据各项目标数据各自的类型，使用对应的异常检测模型确定目标知识点，所述目标知识点包括对应目标数据中包含的、...
该专利属于深圳智现未来工业软件有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳智现未来工业软件有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。