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本实用新型公开了一种探针型CP半导体芯片测试机，具体涉及芯片检测技术领域，包括两个支撑板，两个支撑板之间固定安装有两个连接板，两个连接板上转动设有转动轴，转动轴顶端固定安装有转臂，两个支撑板顶端滑动设有移动板，移动板顶端固定安装有两个底筒，...
该专利属于上海灵动微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海灵动微电子股份有限公司授权不得商用。

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