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本发明公开了一种芯片识别方法及拾取系统，包括以下步骤：对料盘进行拍照，获取料盘上的芯片的图像；芯片模板自动选取，并将选取的模板作为预设模板；对图像的特征进行提取信息，将所有的芯片图像信息与系统自选取的预设模板图像进行对比，并判断两者是否相符...
该专利属于华南理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过华南理工大学授权不得商用。

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