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本公开提供了一种时序仿真验证方法、验证装置、电子设备和可读存储介质，涉及存储器技术领域。其中，时序仿真验证方法包括：对待验证芯片电路执行时序仿真验证，生成目标信号的时序仿真结果；基于使能信号配置时序仿真结果对应的第一采样时刻序列以及目标信号...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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