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一种环孔径光路折叠成像系统的杂散光抑制结构,涉及光学系统杂散光分析技术领域,为了解决现有技术中环孔径光路折叠成像系统杂散光无法抑制并影响成像的技术问题,该结构包括一级遮光罩、二级遮光罩、环孔径光路折叠成像系统和探测器同轴设置以及低反射涂层;...
该专利属于长春理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过长春理工大学授权不得商用。

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