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本公开实施例提供一种芯片测试装置和测试系统。该装置用于为分析设备提供待测芯片的待测信号，包括：测试平台，具有相对的第一表面和第二表面，用于提供测试信号；芯片接口，设于测试平台的第一表面，并与测试平台电连接；芯片接口用于与待测芯片电连接，将测...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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