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本发明公开了一种基于散点图的半导体批次优先级及生产计划分析方法，包括如下步骤：(1)通过数据预处理，将需要展现的数据处理成需要的形式；(2)定义各轴坐标；(3)点击图中坐标点，展现Lot信息、当前工序、当前排产耗时、工序名称的相关信息：优先...
该专利属于上海哥瑞利软件股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海哥瑞利软件股份有限公司授权不得商用。

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