本发明公开了一种一种自动判断缺陷对面板产品影响程度的方法，其具体步骤包括：(1)需要人工对产线生产的每个产品建立一个模板标注信息；(2)通过算法将模板与产线照片进行模板匹配，找到产品照片上所有要素的位置；(3)将缺陷位置与这些要素位置进...

本发明公开了一种配置高效化的镭射设备自动化采集方法，设备终端利用轻型嵌入式Sqlite数据库采集，数据采集平台产品配置化、自动化定时从各设备终端拉取区间数据汇总到上游数据中心，对数据进行自动解析，最终根据解析的数据进行设备利用率的提升和...

本发明公开了一种面板产品双机热备自动化生产技术，AP1、AP2板卡相连，并与其他设备的PLC组成CC Link环路，BC板卡1和BC板卡2相互Backup，当一个板卡宕机或发起切换操作的时候，另外一张板卡的Active信号会自动On，B...

本发明公开了一种面板BC系统控制设备Robot命令下达优化方法，Glorysoft使用Robot设备提供的Robot Command Buffer机制，将需要执行的下一条命令提前下达给设备，由设备来控制命令的衔接，无需再等待上一命令的执...

本发明公开了一种自动化工厂设备无E84通讯功能实现与天车通讯的方法，具体包括以下步骤：(1)原来设备和天车直接走E84交互安全信号，改造成设备上位软件EAP与天车上位软件MCS之间进行安全信号交互；(2)天车准备上料或是下料时，通过MC...

本发明公开了一种基于设备异常导致脏数据堆积的Wafer追溯方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)配置存储消息缓存池，定义缓存池消息键，设置缓存数据存储类型为Set，并指定缓存池大小；(2)保存消息数据，Set集合存储数据用于查询，同时定...

本发明公开了一种泛半导体行业通过缺陷坐标快速进行缺陷追溯的方法，包括如下步骤：(1)获取某一工序AOI或AVI检测数据，做为源数据；(2)获取该工序前，需要追溯的工序对应的AOI数据；(3)将源数据中每一个缺陷点的坐标，分别与履历数据中...

本发明公开了一种产品更换时快速切换PR/MASK的方法，包括如下步骤：(1)Glorysoft(Line Control)提供一个接口，在Line Control系统上增加PLC地址区域搭配MES系统；(2)Glorysoft提供消息接...

本发明公开了一种可视化生成AviatorScript的方法，具体包括如下步骤：(1)择要处理的数据作为脚本的入参；(2)通过对入参变量的集合数据进行解析；(3)把一些处理数据的业务场景封装成一个个小的函数；(4)通过拖拽形式先选中函数，...

本发明公开了一种构建缓存索引实现高效配置化的Wafer追溯方法，包括装舟、卸舟，所述装舟包括：(1)手臂两个爪一次抓取两个花篮一半的硅片，将两爪的硅片交叉后存入舟的奇数位或偶数位；(2)设备上报出花篮次数与WaferID；所述卸舟包括：...

本发明公开了一种基于热力图的半导体晶圆测试良率分析方法，具体包括以下步骤：(1)按类型分批次对晶圆产品进行检测；(2)根据测试结果得到当前产品信息、Lot信息、Wafer信息、Die信息、缺陷信息等；(3)按功能、分区域对缺陷信息进行分...

本发明公开了一种芯片生产数量的管控方法，在MES+EAP系统的基础上实现，MES系统在生产过程中提供工单信息、物料信息，EAP与设备实现联网通讯实现数据采集、实时数据监控、下达自动化指令，当工单进入到装片工序时，操作员通过EAP客户端进...

本发明公开了一种测试数据管理方法，包括EAP+TMS系统，测试数据管理人员可通过TMS系统进行数据维护，EAP在生产作业时交互TMS系统获取数据源对设备进行自动化操作，(1)EAP：SOCKET对分选机、测试机进行通讯来获取设备数据以及...

本发明公开了一种CUT切割机多种切割模式改造方法，包括如下步骤：(1)给设备一个地址区域，在此区域里，会有基板信息，每次上基板时，将基板信息及子片的信息写入此区域，此信息跟着基板信息流动，当切割机进行切割时，获取此基板信息所携带的信息；...

本发明公开了一种基于多端多后台的移动源生应用零代码平台的操作方法，包括如下步骤：(1)各低代码平台设计器搭建移动应用界面和逻辑数据交互；(2)设计完成后生成各平台的页面数据；(3)读取、适配、解析、转化不同平台数据，然后生成移动端组件，...

本发明公开了一种PCB行业滚轮式线边仓自动搬运管理方法，包括AGV搬入业务、AGV搬出业务，EAP系统通过opc ua标准通讯跟设备连接，设备发送相应事件，EAP根据设备上报事件，来判断是否搬入或者搬出；如果是搬入请求事件，EAP会通过...

本发明公开了一种WB设备自动进出站改造方法，由设备机电控对接进料口、出料口的传感器，电控器自带对外的进料光纤，通过加装PLC，PLC对外与EAP通讯，接收设备的信号，CCD接电控实现读码功能，对外开放socket接口与EAP通讯，最终由...

本发明公开了一种ADC系统自动计算缺陷面积辅助判断产品等级的方法，具体包括以下步骤：(1)AOI数据传输；(2)BC数据中转；(3)获取原始数据；(4)ADC自动缺陷分类；(5)ADC必死Code判定逻辑；(6)结果输出。本发明的有益效...

本发明公开了一种ADC系统通过灰阶图片辅助来判断Code信息的方法，具体包括如下步骤：(1)AOI图片准备，包括AOI灰阶图片收集、AOI高清图片收集、AOI高清图片打标、AOI高清图片打标结果等比例转换成对应灰阶图片的打标结果、AOI...

本发明公开了一种基于MCS新增OHS/OHT软件单元来实现提高工厂自动化搬送效率的方法，包括如下步骤：(1)将OHS/OHT中根据STK之前添加每个轨道单元；(2)客户可以根据设备调试精确的得出经过每段轨道单元的时间；(3)根据客户设备...