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本发明公开了一种碳／碳化硅复合材料内部缺陷厚度测量方法，设计并制备厚度梯度变化的缺陷材料标样，利用Ｘ射线照相检测标样，将照相底片扫描成电子图片得到其灰度图像；编程计算得到图像各缺陷区域与无缺陷区域灰度的比值，建立缺陷厚度与对应灰度比值标定函...
该专利属于西北工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过西北工业大学授权不得商用。

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