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关于自动分析装置的技术，提供一种能够辅助操作员迅速或容易地确定测定异常的原因来改善异常的技术。数据处理装置参照与自动分析装置进行的试样的测定相关的数据，基于反应过程数据，将表示反应的特征的预定的变量或测定值作为因子，计算多个因子(F1、F2...
该专利属于株式会社日立高新技术所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社日立高新技术授权不得商用。

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