温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本公开是关于一种芯片良率分析方法及装置、电子设备以及计算机可读存储介质，涉及半导体生产与制造技术领域。该方法包括：获取基于芯片测试得到的失效芯片信息，并获取预先存储的失效图形信息以及缺陷制程信息；基于失效图形信息与缺陷制程信息，对失效芯片信...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。