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一种芯片检测用载料结构制造技术
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文档序号:37784805
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本实用新型涉及载料技术领域,尤其涉及一种芯片检测用载料结构,一种芯片检测用载料结构,包括载料盘,所述载料盘的中部安装有蓄电池,且载料盘的上端安置有上板,所述上板的左下端安置有转轴,且上板的内部开设有滑槽,所述滑槽的内侧安装有滑轨,且滑轨的顶...
该专利属于无锡领测半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过无锡领测半导体有限公司授权不得商用。
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