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本公开涉及用于测试电子电路的系统以及对应方法和计算机程序产品。公开了一种用以测试电子电路的系统、方法和设备，其具有用于向包括上拉开关和下拉开关的负载提供驱动信号的级、以及包括预驱动器电路的预驱动级。电子电路包括用于在自动测试设备(ATE)的...
该专利属于意法半导体股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过意法半导体股份有限公司授权不得商用。

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