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半导体结构及其制备方法、测试系统技术方案
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文档序号:37507780
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本公开实施例涉及半导体领域,特别涉及一种半导体结构及其制备方法、测试系统,半导体结构包括:系统板;封装结构,封装结构设置在系统板的表面,封装结构包括裸片、封装层以及封装基板,封装层位于封装基板远离系统板的表面,封装层将裸片封装在内;电连接结...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
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